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粗糙度轮廓仪SV-C3200系列

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Formtracer表面粗糙度、轮廓形状一体机
Formtracer SV-C3200/4500 525 系列 — 表面粗糙度和轮廓测量系统
通过更换检测器,一台机器上能测量表面粗糙度和轮廓形状的一体型测量机 ,同时能测量表面粗糙度和测量轮廓形状的混合型测量机 。

产品特点

• Z1轴检出器作为标准件提供。Z1轴的显示分辨力为0.0001μm(测量范围为8μm时)。
• X轴内置玻璃光栅尺,直接读取X轴移动距离,在定位下,完成间距参数的评价。
• 检出器测力有4mN和0.75mN可选。
• Z1轴(检出器)上配有弧形光栅尺和测臂。弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹,以实现精度和分辨力。与其他型号相比,测臂使Z1轴测量范围增大了10mm 同时减少了工件的干扰。测臂安装部采用了磁性链接件,单此接触就能完成测臂的装卸,提高了易用性。• 为SV-C-4500系列增加了以下两大特性作为轮廓测量系统的功能。
装配双锥面测针,实现垂直方向(上/下)连续测量,所获取的数据实现测量内螺纹有效直径。测力可在FORMTRACEPAK软件中设置。不用调整配重。
•表面粗糙度/轮廓FORMTRACEPAK分析程序,通过简单的操作就能进行分析并即刻输出结果。
• 表面粗糙度测试仪和轮廓测量仪结合在一起,节省安装空间。
• 测臂安装为一键式装卸
测臂安装部采用了磁性连接件,实现了较快速更换。此外,装卸部内置了安全结构。

产品规格

货号
SV-C3200S4
SV-C3200H4
SV-C3200W4
SV-C3200S8
SV-C3200H8
SV-C3200W8
SV-C4500S4
SV-C4500H4
SV-C4500W4
SV-C4500S8
SV-C4500H8
SV-C4500W8
测量表面粗糙度时
测量范围X 轴 (驱动部)
100mm
200mm
Z1 轴 (检出器)
800μm/80μm/8μm
直线度
(0.05+L/1000) μm L: 驱动长度 (mm)
0.5μm/200mm
分辨力Z1轴(检出器)
0.01μm(800μm), 0.001μm(80μm), 0.0001μm(8μm)
测力
0.75mN (机身代码末尾带 “-1”的型号)
4mN (机身代码末尾带“-2”的型号)
测针针尖形状
60º, 2μmR (机身代码末尾带 “-1”的型号)
90º, 5μmR (机身代码末尾带 “-2”的型号)
对应尺寸
JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA
评价参数
Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, P q, Pmr(C), Pmr, P&c, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz,
Rt, Rc, RSm, R q, Rmr(C), Rmr, R c, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, W q,
Wmr(C), Wmr, W c, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN,
RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, a, a, q, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW
评价轮廓
原始轮廓、粗糙度轮廓、滤波波纹轮廓、波纹轮廓、滚动圆波形原始轮廓、滚动圆波形
轮廓、包络残余线、DF 轮廓 (DIN4776 / ISO13565-1)、表面粗糙度MOTIF (包络波纹轮廓在评
价MOTIF 时显示)
分析图
负荷曲线、振幅分布曲线、功率谱、自相关、Walsh 功率谱、 Walsh 自相关、峰分布、
倾斜角分布、参数分布(磨损量、重叠在轮廓分析可以用于面积等的原始分析)
曲线补偿
平方直线、R 面补偿、椭圆补偿、抛物线补偿、双曲线补偿、二次曲线补偿、多项式
补偿(自动或任意2~7 次)、无补偿
滤波器
高斯滤波器, 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50, 鲁棒样条滤波器
轮廓测量
测量范围X轴(驱动部)
100mm
200mm
Z1轴(检出器)
60mm (测臂水平位置±30mm)
直线度
0.8μm/100mm
2μm/200mm
精度X轴(驱动部)
±(0.8+0.01L)μm L: 驱动长度 (mm)
±(0.8+0.02L)μm L = 驱动长度 (mm)
Z1轴(检出器)
SV-C3200 系列: ±(1.6+|2H|/100)μm, SV-C4500 系列: ±(0.8+|2H|/100)μm
H: 水平位置上的测量高度 (mm)
分辨力X轴(驱动部)
0.05 μm
Z1轴(检出器)
SV-C3200 系列: 0.04μm, SV-C4500 系列: 0.02μm
Z2轴(立性)
1 μm
测力
SV-C3200 系列: 30mN (可调使用重量)
SV-C4500 系列: 10, 20, 30, 40, 50mN (根据软件转换)
侧头方向
SV-C3200 系列: 垂直方向 (向上/ 向下单独测量)
SV-C4500 系列: 垂直方向 (向上/ 向根据配重调整)
通用时
Z2轴 (立柱) 移动量
300mm
500mm
300mm
500mm
X 轴倾斜角度
±45º
驱动速度X 轴0
0 - 80mm/s 外加手动
Z2 轴 (立柱)
0 - 30mm/s 外加手动
测量速度
0.02 - 5mm/s

产品选件

Y 轴工作台:178-097
对多个排列工件和同一测量面上的多点进行自动测量。
旋转工作台 q1 轴:12AAD975*
提高轴向/ 横向上的测量效率。当测量一个圆筒形工件时,与Y 轴台相配合进行自动调准。
* 当直接安装在SV-3100 主机工作台上使用时,需要另行选购q1 轴安装板(12AAE630)。
旋转工作台q2 轴组件:178-078*
可实现自动测量圆柱形状测量工件的多处、正反两面。
* 如想直接安装在SV-3100 主机工作台上使用,需要另行选购q2 轴安装板(选配 : ***2AAE718)
定心(滚花环固定) :211-032微型快速卡盘:211-031
测量小型物件时,采用滚花环达到固定的目的。采用它可以固定小直径的工件。
自动调水平工作台:178-087
当测量开始后,它可以自动调整水平。此外,操作简单和可靠。
其他选件



检测器●测针

检测器接头


*产品信息仅供参考,型号和技术参数生产厂家有可能随时更改

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